Keysight Technologies Bv

1.Частини до тестеру Keysight (i3070) і327х: -перетворювач статичний, випрямляч N1808A-510 Dut P.S.; 6751A; 4 Output; 4x40w+G18 –(Блок живлення функціональних плат) – 4 вихода по 40Вт -1шт.Для цивільного використання

1.Частини і приладдя що вбудовані в тестер Keysight (i3070) і327х:-E4001F-FG E4001F, Hybridplus Pin Card, 144 Nodes, 16 Channels, Dd 12.5 Mps (функціональна плата призначена для перевірки напівпровідникових компонентів напаяних на друковану плату по технології поверхневого монтажу (Smt)) -1шт.-E4003F-FG E4003B Analogplus Pincard, 144 Nodes, Analog Only (функціональна плата призначена для перевірки пасивних компонентів напаяних на друковану плату по технології поверхневого монтажу (Smt)) -3шт.-N1123B-317 Module Activation: 1 Or 2-Module (i317x, 327x) For N67xx Dutps (функціональна плата призначена для активації, синхронизації та контролю стабільної роботи інших функціональних плат) -1шт.-E9901F-001 1-Module Standard Ict Testhead; i327x (вбудована матриця пінів для підключення тестових адаптерів) -1шт.-E1061F-FG E1061F, Access Plus Pincard, 8 Hf, 10:28, 24 Gp (матриця пінів, для підключення перевірочного адаптеру до відповідної матриці в тестері. Матриця встроєна в адаптер.) -1шт.-E4033C-"" ""Fg Ict Pin Verification Fixture For 1 To 4 Module Systems; Rev 08.00 (Перевірочний адаптер E4033C-FG Ict для тестера Keysight i3070) -1шт.Для цивільного використання. В роботі приладів не приміняються радіоактивні речовини

1.Тестер для перевірки електричної функції друкованих плат Keysight (i3070) і327х / (E9901F; 1-Module In-Circuit Test System; i327x, Series 5) Serial Number: MY57010104 -1шт. в комплекті:-E1135C-3PN 3-Phase, Wye With Neutral Supports 220/380-240/415 Vac – 3-х фазна вилка -1шт.,-E1135C-240 Pwr Optn, Greater Than 220 Vac – модуль опційного підключення до мережі 220В -1шт.Ліцензійні ключі:-N1113A-1FY Dgn Adv Reporting For Gte 08.20p -1шт.-N1114B-1FE i3070 Basic Sw For 12/20 Mps System Gte 08.00p -1шт.-N1115E-1FE i3070 Test System Sw Update, Gte 09.00p -1шт.-N1116E-1FE i3070 Test Development Sw Update, Gte 09.00p -1шт.-N1117C-1FE i3070 Mux Test Development, Gte 07.00p -1шт.-N1117C-2FE i3070 Unmux Test Development, Gte 07.00p -1шт.-N1118C-1FE i3070 Mux System, Gte 07.00p -1шт.-N1109A-1FY Nist Calibration -1шт.(ліцензійні ключі безпосередньо встановлені на даному обладнанні те є невід’ємною складовою частиною приладу).Використовується для перевірки електричної функції плат після мотажу компоне"" нтів на лінії поверхневого монтажу (Smt). Перевірка відбувається шляхом підключення до тестових точок на платі відповідних тестових пінів на адаптері.Робота тестера відбувається по принципу багатоточкового мультимерта.Для цивільного використання. В роботі приладів не приміняються радіоактивні речовини